三次元影像仪是检测工件尺寸与形位误差的仪器,首要的是精度指标应满足用户要求。选用时,一般可根据被测工件要求的检测精度与测量机给定的测量不确定度相对比,看测量机精度是否符合要求。下面小编分享关于三次元影像仪的测量精度以及测量范围的内容,欢迎阅读!
三次元影像仪的测量精度:
三次元影像仪是检测工件尺寸与形位误差的仪器,首要的是精度指标应满足用户要求。选用时,一般可根据被测工件要求的检测精度与测量机给定的测量不确定度相对比,看测量机精度是否符合要求。
精度比对不是一个简单的比较过程。测量机的技术规范中一般只给出单轴测长和空间测长的两个不确定度公式及重复精度值。但在具体测件时需要将被测参数的测量不确定度限制在一定范围内。一般测量时,要测量很多测点。在形位测量时,更有大量测点参与并带来测量误差,精确计算是很难的。因此从经验出发,在一般测量中,测量不确定度应为被测工件尺寸公差带的1/5~1/3。例如某一被测箱体上二孔的孔距为500mm,公差带为15μm,则所选用的测量机在500mm长度上的测量不确定度应不大于3μm~5μm。对于精密测量及复杂的形位测量要求还高,一般应为被测尺寸公差带的1/10~1/5。重要的是重复精度必须满足要求,因为系统误差还可以通过一定方法补偿,而重复精度应由测量机本身保证。
总之,用户应选用精度(包括重复精度)高一些的OPTEK自动影像仪。这不仅由于测量复杂件时,测点可能带入的误差比预想的要大(由于测头测杆变化或加长会引入更大的误差),而且测量机的精度会随使用次数增多而有所下降。
三次元影像仪的测量范围:
三次元影像仪测量范围的选择时选择测量机时的基本参数。因为在测量范围内才能获得精确的测量值,超出了范围,测量就难于进行。选择测量范围时,应考虑以下几个方面。
1、工件的所需测量的部分,不一定是整个工件。如要测的部分集中在工件的某个局部,除了测量机的测量范围能覆盖被测参数之外,还要考虑整个工件能在测量机上安置,要求工件重量对测量精度不带来显著影响。为了把工件放入测量机中,应根据工件大小选择测量机。
2、Z轴与Z向空间高度的关系。Z轴行程是Z轴的测量范围,而Z向空间高度是工件能放得下的高度,
3、加长杆的问题。有的测头上有星形探针,这些探针在测量时往往要求超出工件的被测部分。一般工件尺寸为l时,要求测量范围L=l 2C,C为探针的长度。因此测量范围等于工件被测的zui大尺寸再加上两倍的探针长度。
感谢阅读,以上就是对三次元影像仪的测量精度以及测量范围的介绍,部分内容来自网络,仅供参考。如果您想了解更多有关三次元影像仪的详细事宜,欢迎致电详询,竭诚为您服务。
三次元影像仪是检测工件尺寸与形位误差的仪器,首要的是精度指标应满足用户要求。选用时,一般可根据被测工件要求的检测精度与测量机给定的测量不确定度相对比,看测量机精度是否符合要求。下面小编分享关于三次元影像仪的测量精度以及测量范围的内容,欢迎阅读!
三次元影像仪的测量精度:
三次元影像仪是检测工件尺寸与形位误差的仪器,首要的是精度指标应满足用户要求。选用时,一般可根据被测工件要求的检测精度与测量机给定的测量不确定度相对比,看测量机精度是否符合要求。
精度比对不是一个简单的比较过程。测量机的技术规范中一般只给出单轴测长和空间测长的两个不确定度公式及重复精度值。但在具体测件时需要将被测参数的测量不确定度限制在一定范围内。一般测量时,要测量很多测点。在形位测量时,更有大量测点参与并带来测量误差,精确计算是很难的。因此从经验出发,在一般测量中,测量不确定度应为被测工件尺寸公差带的1/5~1/3。例如某一被测箱体上二孔的孔距为500mm,公差带为15μm,则所选用的测量机在500mm长度上的测量不确定度应不大于3μm~5μm。对于精密测量及复杂的形位测量要求还高,一般应为被测尺寸公差带的1/10~1/5。重要的是重复精度必须满足要求,因为系统误差还可以通过一定方法补偿,而重复精度应由测量机本身保证。
总之,用户应选用精度(包括重复精度)高一些的OPTEK自动影像仪。这不仅由于测量复杂件时,测点可能带入的误差比预想的要大(由于测头测杆变化或加长会引入更大的误差),而且测量机的精度会随使用次数增多而有所下降。
三次元影像仪的测量范围:
三次元影像仪测量范围的选择时选择测量机时的基本参数。因为在测量范围内才能获得精确的测量值,超出了范围,测量就难于进行。选择测量范围时,应考虑以下几个方面。
1、工件的所需测量的部分,不一定是整个工件。如要测的部分集中在工件的某个局部,除了测量机的测量范围能覆盖被测参数之外,还要考虑整个工件能在测量机上安置,要求工件重量对测量精度不带来显著影响。为了把工件放入测量机中,应根据工件大小选择测量机。
2、Z轴与Z向空间高度的关系。Z轴行程是Z轴的测量范围,而Z向空间高度是工件能放得下的高度,
3、加长杆的问题。有的测头上有星形探针,这些探针在测量时往往要求超出工件的被测部分。一般工件尺寸为l时,要求测量范围L=l 2C,C为探针的长度。因此测量范围等于工件被测的zui大尺寸再加上两倍的探针长度。
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